INGUN 擁有用于所有常用測(cè)試系統(tǒng)的各種類(lèi)型的測(cè)試治具套件和在線替換套件。其采用模塊化設(shè)計(jì)構(gòu)造，因此能夠通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化治具解決方案完成幾乎所有測(cè)試任務(wù)。

INGUN 的產(chǎn)品組合包括手動(dòng)測(cè)試治具 (MA)、氣動(dòng)測(cè)試治具 (PAZ/PA)、真空測(cè)試治具 (VA)、高頻測(cè)試治具 (HF)、在線替換套件 (WS) 以及各種不同的擴(kuò)展配件。

所有測(cè)試治具均采用模塊化設(shè)計(jì)構(gòu)造，且工作原理類(lèi)似，都具有探針支承板、壓板和壓緊裝置。不同之處主要在于對(duì)電子組件進(jìn)行觸探時(shí)平行觸探行程的實(shí)施方式。

測(cè)試冶具分為替換套件式測(cè)試冶具和單件測(cè)試冶具。替換套件式測(cè)試冶具的優(yōu)勢(shì)在于，只需同一基本設(shè)備即可通過(guò)不同的替換套件進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)試冶具由外殼 (P/FGH) 和驅(qū)動(dòng)單元 (ATE) 組成，替換套件由壓緊裝置 (NDH) 和探針支承單元 (KTE) 組成。

INGUN 測(cè)試治具供貨時(shí)既可配備用于所有常見(jiàn)測(cè)試系統(tǒng)的接口，也可在不配備接口的情況下提供。取決于所用測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試系統(tǒng)接口位于外殼底部或后部。所有測(cè)試治具均可按標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具套件來(lái)交付，并隨后由客戶自行進(jìn)行個(gè)性化擴(kuò)展。

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