應用案例 | 打造高效耐用的負載板,助力半導體檢測行業
關鍵詞: ATE測試機 Loadboard G6K系列信號繼電器 半導體測試 芯片測試
當前,半導體行業對ATE測試機的需求愈發高漲,據ICV數據統計,2022年中國集成電路自動測試系統市場規模占據全球36.76%的市場份額,預計2025年該占比達到42.40%。(數據來源:https://www.jianshu.com/p/238f50af4bb1)
ATE測試機在半導體產業鏈中的地位舉足輕重,可為無晶圓廠(fabless)提供原型測試驗證服務。但是在設計應用中,也面臨一些挑戰。如作為測試機和芯片“連接橋梁”的Loadboard(負載板),因早期信號繼電器或接觸不夠穩定、發熱等問題而導致測試誤差,亟需高精度、高可靠性、高一致性的信號切換元件,以確保測試數據的準確性和穩定性。
上期案例,歐姆龍器件與模塊解決方案(以下簡稱OMRON DMS),通過MOS FET繼電器G3VM-WR,打造穩定性強、壽命長、高性能ATE測試機DPS功能板。
本期案例,OMRON DMS將通過G6K系列信號繼電器,講述如何打造高效集成、可靠耐用的ATE測試機Loadboard(負載板)。
G6K系列信號繼電器:
封裝面積小、薄型化節省電路板空間
G6K系列信號繼電器在ATE測試機Loadboard(負載板)的應用中,可承擔測試信號切換與控制的作用,憑借強大的性能,幫助實現電路隔離與保護、模擬多樣化測試環境、適配高速測試需求、提升測試效率與自動化水平等功能。
01 可靠接觸,確保精準測試
芯片測試對信號完整性要求極高,早期繼電器接觸電阻不夠穩定,有可能導致信號干擾、衰減,引發誤觸或邏輯錯誤,干擾測試結果。
G6K系列信號繼電器可保障精準測試。其采用銀合金雙橫桿觸點設計(低接觸電阻≤100mΩ),確保微小電流(μA級)的精確傳輸;動作時間平均<2ms,提升測試準確性;通過5000萬次機械壽命測試,長期使用性能不衰減;實現線圈接點間耐高壓AC1,500V、且耐沖擊電壓可達1.5kV 10×160μs。
02 小型封裝,實現高密集成
當前,火熱的GPU/AI芯片提出大量的計算需求,所以現在的Loadboard(負載板)需要集成數百或更多的測試通道,來驗證芯片多信號通道下協同工作的穩定性。而早期繼電器的體積過大,在Loadboard(負載板)有限的空間里,矛盾難以調和。
G6K系列信號繼電器采用超小型設計(高5.2mm×寬6.5mm×長10mm,2.54mm Pitch),便于Loadboard(負載板)上集成更多繼電器數量,同時根據G6K不同封裝形態,近一步滿足多功能和多封裝的需求。
03 節能低溫,保障系統可靠
在傳統認知里,高密度的繼電器陣列意味著高的發熱源,高溫所引發的Loadboard(負載板)上器件的溫漂問題、材料形變等,會直接影響信號的傳輸速率、精度等問題。
依靠“散熱”不如本身就不產生高熱量,G6K系列信號繼電器的線圈功耗僅100mW(同類較低水平),可減少整體熱負荷,避免熱膨脹引發的接觸偏移。
案例成果
助力客戶提高半導體測試效率和可靠性
我們正處于一個半導體芯片快速迭代的時刻,無晶圓廠(fabless)對高質量、高效率的芯片測試需求也將愈發緊迫。
封裝面積更小、薄型化節省電路板空間的G6K系列信號繼電器,有高精度、高可靠性、高一致性、低功耗等核心優勢,助力客戶提高半導體測試的效率和可靠性:
降低成本:減少誤判和復測次數,提升測試效率。
加速量產:高可靠性縮短設備維護周期。
更多選擇:通過LED與MOS FET芯片的組合實現了繼電器功能的MOS FET繼電器G3VM,可憑借小巧尺寸、長壽命、穩定的導通電阻、低功耗等特性,同樣適用于Loadboard(負載板)應用場景。
當前,無論是AI智能終端、自動駕駛、物聯網等應用驅動,還是國產替代的市場驅動,抑或是材料、光學、精密機械等協同創新的技術驅動,都在為芯片快速迭代帶來紅利。
OMRON DMS希望通過可靠的產品品質以及穩定的供貨能力,與您共同推動半導體測試行業的快速發展!
