在校準射頻探針時，對校準的嚴格設計需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測試的準確無誤，同時優(yōu)化測試的簡便性，速度和成本。這一點變得越來越重要，例如，引入5G后，需要以更高的頻率進行工作和測試。基于這些要求，INGUN客戶必須在設計測試系統(tǒng)時決定哪種校準/補償方法最適合其應用。我們能夠提供多種可供選擇的方法，從簡單的校準到非常復雜的校準，范圍十分寬泛。校準越復雜，在結果越精確，在批量測試中的測量結果也越精確。但是，并非總是需要最復雜且耗時的校準過程；簡單的過程通常足以優(yōu)化測量結果并減少誤差。除了由于不理想的校準特性而導致的錯誤外，在校準射頻探針時還會發(fā)生另外兩個錯誤：

1.定位錯誤：當射頻探針未與物體精確對準時，會發(fā)生這種情況。

2.校準路徑錯誤：在已經(jīng)執(zhí)行校準后添加或刪除擴展時，會發(fā)生這種情況。

使用適合各自應用的正確校準方法可以完全避免錯誤。

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